ภาพข่าว: สัมมนาวิชาการ “มาตรวิทยาในยุคดิจิตอล: Improving Business Competitiveness” จ.เชียงใหม่

สถาบันมาตรวิทยาแห่งชาติ มว. ร่วมกับ คณะวิศวกรรมศาสตร์ มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลล้านนา จ. เชียงใหม่ จัดสัมมนาวิชาการในหัวข้อ “มาตรวิทยาในยุคดิจิตอล: Improving Business Competitiveness”  โดยได้รับเกียรติจาก ดร.พินิจ  เนื่องภิรมย์ รองคณะบดีคณะวิศวกรรมศาสตร์ มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลล้านนา เป็นประธานกล่าวเปิดงาน  ซึ่งกิจกรรมดังกล่าวยังได้มีการบรรยายในหัวข้อ “มาตรวิทยาเบื้องต้น” บรรยายโดย ดร.จริยา  บัวเจริญ หัวหน้าฝ่ายมาตรวิทยามิติ มว. การบรรยายในหัวข้อ “Introduction of information technology in metrology” บรรยายโดย ดร.นรินทร์  จันทวงศ์ หัวหน้าห้องปฏิบัติการนาโนเทคโนโลยี ฝ่ายมาตรวิทยามิติ มว. การบรรยายในหัวข้อ “เทคโนโลยีการวัดอัตโนมัติด้วยระบบวิชั่น” บรรยายโดย นายชัยรัตน์ บรรเทาทุกข์ ที่ปรึกษาระบบอัตโนมัติ และหุ่นยนต์ สถาบันเทคโนโลยีการผลิตสุมิพล (SIMTec) และการบรรยายในหัวข้อ “หลักการนำใบรับรองผลการสอบเทียบไปใช้เพื่อการควบคุมคุณภาพ” บรรยายโดย ดร.จริยา  บัวเจริญ และ ดร.นรินทร์  จันทวงศ์ เจ้าหน้าที่จากสถาบันมาตรวิทยาแห่งชาติ มว. การสัมมนาครั้งนี้จัดขึ้นโดยมีวัตถุประสงค์เพื่อพัฒนาศักยภาพของผู้ประกอบ เผยแพร่เทคโนโลยี และนวัตกรรมใหม่ๆ ด้านมาตรวิทยาให้แก่ภาคอุตสาหกรรม และภาคส่วนต่างๆ ที่สนใจ  ณ คณะวิศวกรรมศาสตร์ มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลล้านนา จ.เชียงใหม่